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動態(tài)光散射粒度分析儀的結(jié)構(gòu)與性能特點(diǎn)詳述

更新日期：2023-05-29     信息來源：      瀏覽次數(shù)：277

　　動態(tài)光散射粒度分析儀的結(jié)構(gòu)：
 
　　從激光器發(fā)出垂直偏振的相干光束，經(jīng)透鏡1后，會聚到樣品池的中心。樣品池的四周加有保溫套，使得池四周的溫度能保持恒定。樣品池內(nèi)盛有液體介質(zhì)，待測顆粒分散在介質(zhì)內(nèi)。入射光被顆粒散射。在與入射光垂直（也可其他方向）的方向離樣品池一定距離處放置透鏡2。此透鏡將散射光會聚到它后方的光電探測器的光敏面上。透鏡前置有孔徑光闌，用以調(diào)節(jié)進(jìn)入光電探測器的光束的大小。光電探測器前置有視場光闌，用以控制散射區(qū)的大小。光電探測器將散射光信號轉(zhuǎn)換成電信號，然后送入相關(guān)器進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算。獲得的相關(guān)函數(shù)送給計算機(jī)，計算機(jī)再將相關(guān)函數(shù)反演成顆粒的粒度分布數(shù)據(jù)。
 

　　動態(tài)光散射粒度分析儀的性能特點(diǎn)：
 
　　動態(tài)光散射粒度儀適合于測量亞微米至納米級的顆粒。
 
　　對微米以粗顆粒，當(dāng)它們分散在介質(zhì)中時，其布朗運(yùn)動很輕微，且容易在重力作用下下沉，因而不容易得到顆粒大小的信息。對于粒徑接近或小于納米的顆粒，由于散射光的信號極弱，噪聲干擾非常嚴(yán)重，也難以測量。
 
　　另外由于不同大小顆粒散射光的自相關(guān)函數(shù)特異性較差，本方法不適宜測量粒度分布較寬的樣品，并且難以獲得粒度分布寬度的可靠信息。
 
　　動態(tài)光散射粒度分析儀先將一束相干光照射到顆粒上，假設(shè)：
　?。?）顆粒被光束照明，并且其散射光能被觀察到的區(qū)域（稱作“散射區(qū)域”）中顆粒數(shù)目（記為）足夠多，以致顆粒的隨機(jī)運(yùn)動引起的顆粒數(shù)變化相對于顆?？倲?shù)可以忽略不計；
 
　?。?）入射光的偏振方向垂直于散射面；
 
　　（3）入射光場與顆粒的散射光場相對獨(dú)立；
 
　　（4）顆粒為均勻、各向同性的球體；那么觀察點(diǎn)上散射光的振幅是散射區(qū)內(nèi)所有顆粒的散射光振幅之和。